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硅片外觀缺陷檢測

作者:yjun 來源:原創 日期:2019-12-2 9:29:18 人氣:132

企業在硅片生產過程中,為了保證硅片質量,對硅片外觀缺陷檢測十分必要,常見的硅片外觀缺陷檢測包含硅片四腳是否缺角,硅片劃痕、硅片雜質等檢測。而蘇州匯光科技專做光學儀器研發,銷售十幾年,做過多種光學視覺檢測方案,硅片外觀缺陷檢測案例就是其一。

前幾天,蘇州匯光科技業務就做了一個硅片外觀缺陷檢測案例,聽業務員描述客戶是一家廈門的上市公司,專做化合物半導體材料外延片的研發、生產和銷售,此次我司業務員受邀為客戶定制屬于他們公司的硅片外觀缺陷檢測系統。我司業務員在熟知客戶檢測需求并通過案例分析后,為客戶推薦了專用于硅片缺陷分析用的顯微鏡是金相顯微鏡,并配有專用的硅片分析軟件,下面小編簡單和大家說一下蘇州匯光科技為客戶定制的外觀缺陷分析系統的主要特點。

1、在生產線上,支持多路硅片同步檢測。

2、硅片外觀缺陷分析金相顯微鏡配有專用分析軟件,分析數據迅速,準確。

3、整套硅片缺陷分析系統布局清晰,容易掌握。

……

以下是客戶硅片外觀缺陷檢測的顯微鏡拍照圖

以上就是蘇州匯光科技的硅片外觀缺陷檢測系統的主要特點,除此以外,它還具有強大的圖片分析處理、圖片存儲等功能,詳情大家可咨詢蘇州匯光科技,我司相關業務將詳細為您服務。

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